衍射光学元件,微透镜,离轴抛物面镜,NOIR激光防护眼镜,太赫兹,太阳能模拟器,显微镜载物台,激光器,红外热像仪,激光晶体
English购物车网站地图
服务热线:0755-84870203
中文English
服务热线:0755-84870203

产品中心

衍射光学元件(DOE)

光束整形器螺旋相位片分束镜

多焦点DOE长焦深DOE匀化镜

线激光准直输出模组

光束整形器DOE>
光束整形器 匀光片 匀化镜 M型光束整形镜 带聚焦的光束整形器 定制光束整形器 光束整形专用聚焦镜
光束整形模组>
πShaper光纤激光整形器,光纤激光整平顶激光 线激光准直输出模组 πShaper准直光束整形器,准直平顶光整形器 准直平顶光模组 foxxus多焦点玻璃切割模组 Adloptica光束整形器,平顶光整形器 光束整形器专用镜架,平顶光安装对准器 可监控激光加工温度的红外聚焦镜,激光保护镜片(激光窗口片) Quattroxx激光分束器,分束模块
焦点控制DOE>
多焦点DOE 长焦深DOE 玻璃切割模组 DeepCleave激光成丝切割模组,用于玻璃切割的DeepCleave激光成丝模组
分束镜>
分束器 激光采样器 定制激光分束器 国产分束器 高效率激光分束器
螺旋相位板>
螺旋相位板 涡旋相位片 连续型螺旋相位片,连续面形涡旋相位板 RPC螺旋相位板,多合一螺旋相位片 涡旋相位板(64台阶)
其它DOE>
衍射轴锥镜 轴棱镜DOE 艾里光束DOE 三光点DOE 激光模式转换器 多圆环发生器 双波长聚焦镜 三波长聚焦镜 衍射光学元件 功能可调的DOE
DOE配件>
高衍射级次阻挡模组 DOE光束缩放器 DOE专用掩膜 DOE专用扩束器 DOE转接件
随机点阵DOE>
随机点阵DOE 散斑DOE 随机点阵激光模组
结构光DOE>
多线结构光DOE 网格结构光DOE 一维点阵DOE 直线DOE 二维点阵结构光DOE 十字线结构光DOE 圆环DOE 圆形点阵DOE 特殊图案结构光DOE 结构光镜片(玻璃),衍射匀化片
结构光模组>
结构光模组,结构光DOE模组 20um线激光模组,一字线激光模组
    
微透镜

微透镜阵列标准品 工程散射片

激光器及附件

皮秒半导体激光器 普克尔斯盒

激光分析诊断设备

光斑分析仪 位敏探测器 自准直仪

光束质量分析仪(M2) 激光波长计

太赫兹系统,THz源,相机

THz源 THz相机太赫兹探测器

THz人体安检仪 THz时域光谱系统

太赫兹元件

有机晶体 THz衰减器

离轴抛物面镜THz偏振片

THz透镜THz波片 

光学仪器

AAA级太阳能模拟器光学斩波器

光学镜片及晶体

Chroma滤光片消色差波片

UPD超快光电探测器二氧化碳激光镜片

滤光片>
Chroma滤光片 Andover滤光片 超窄带滤光片(Andover) 中性密度滤光片 干涉滤光片
常规光学元件>
二氧化碳镜片,CO2透镜 中空回射器 LRO高功率CO2激光镜片 主流中空回射器介绍
红外光学元件>
中红外聚焦镜(Innpho) 中红外隔离器 红外偏光片(Innpho)
超宽带消色差波片>
B.Halle消色差波片 Alphalas宽带可调谐波片
飞秒激光镜片>
Layertec常规激光光学元件 Layertec超快激光光学元件 Layertec特殊激光光学元件 飞秒激光反射镜 德国Layertec飞秒激光分光镜 激光输出耦合镜 激光转向镜 泵镜,泵浦镜 激光短波通光滤波片 飞秒激光偏振片 激光长通滤波片 激光窗口镜 激光标准镜
晶体>
TeO2晶体,氧化碲晶体 TeO2棱镜,氧化碲光束位移器,TeO2光束偏振器
激光晶体>
蓝宝石晶体 Ho:YLF晶体,Pr:YLF晶体 被动调Q激光器开关晶体 拉曼晶体BN晶体,KGW晶体,KYW晶体 光折变晶体 BSO,Fe:LiNbO3,SBN,BGO晶体 Tm,Ho:KYW晶体、Cr:LiSAF晶体 掺钕晶体 Nd:YAG,Nd:KGW,Nd:YLF,Nd:YVO 4晶体 掺Yb晶体 Yb:YVO4,Yb:Yab,Yb:YAP,Yb:YLF 掺Yb晶体 Yb:YAG, Yb:KGW, Yb:CaF2, Yb:KYW 掺铒晶体Er:YAG晶体,Er:YLF晶体,Er:KYW晶体
透镜 棱镜>
平凸透镜,透镜 平凹透镜 双凸透镜,双凸球面镜 双凹球面镜,双凹透镜 平凹柱面透镜,透镜 平凸柱面透镜,柱面镜 锥透镜,轴锥镜 等边色散棱镜,色散棱镜 直角棱镜,棱镜 五角棱镜 角锥棱镜回射器
扩束镜>
可变扩束器 电动扩束器 固定倍率扩束器
反射镜>
激光线反射镜 宽带反射镜 多波长介质膜高反射镜 激光腔输出耦合器,输出镜 谐波分离器,波长分光镜 高斯反射镜 金属膜反射镜
窗口片>
曲面窗口片 高精度窗口片
非线性光学晶体>
KDP晶体,DKDP晶体、铌酸锂晶体、ZGP晶体 BBO晶体,LBO晶体,KTP晶体 AgGaSe2晶体,AgGaS2晶体,CdSe晶体
 
光学配件

激光防护眼镜激光护目镜 

平移台及显微镜载物台

PRIOR显微镜载物台自动上片机

Zaber电控平移台MinusK隔振台

浏览记录

显示更多  up

光束质量分析仪 M2Beam

光束质量分析仪 M2Beam

以色列DUMA生产的M2 Beam光束质量分析仪采用刀口式分析的原理,可以实现连续激光(CW)的测量,特殊版本使用CMOS传感器实现脉冲激光的检测,整体覆盖220-2700nm波段,其中脉冲激光可实现220-1600nm的波段覆盖。可配置风冷采样器,实现高功率激光的测量,功率强度提升至4KW,同时实现25mm光束尺寸的接收。M2因子检测以及一般数据测量准确度保持在±5%。主要满足用户对光束质量,束腰位置,束腰直径,发散角,瑞利长度,腰部对称性以及像散的分析,同时具备2D/3D建模以及数据导出的功能,包含Excel,World或文本格式导出,方便用户对检测数据进行二次处理。

所属品牌: 以色列Duma Optronics

应用类型: 激光测量

产品型号:M2Beam-Si,M2Beam-UV,M2Beam-IR,M2Beam-U3-VIS-NIR,M2Beam-UV-NIR,SAM3-HP-M

负责人:孙工 激光分析诊断设备
联系电话:13692216712 电子邮箱:zmsun@welloptics.cn

规格书下载 添加到询价单

 

实现220~2700nm光谱范围,±5%准确率的M2Beam光束质量分析仪




以色列DUMA公司提供的M2光束质量分析仪由七刀口式Beam Analyzer和移动平台组成,通过采集多个测量面实现对M²因子的测量,整体准确度保持在±5%范围内,满足用户对光束质量参数的需求,主要包括M2因子,发散角以及束腰参数等数据的检测。

由于Beam Analyzer应用刀口式扫描的原理,需要通过刀口截取激光面,因此无法实现对脉冲激光的检测。为了满足用户对测量激光种类的需求,以色列DUMA公司为用户提供了特殊型号选择,M2Beam-U3-VIS-NIR。该型号采取CMOS传感器搭配移动平台,可以实现对220-1600nm波段脉冲激光的测量,解决了用户对脉冲激光检测的需求。刀口式扫描分析原理的测量精度与光束尺寸无关,因此对于微米级的激光束,刀口扫描式分析相比于狭缝或针孔式原理的测量精度略高,M2Beam激光光束分析仪可以实现实时监控激光光束质量,配置USB3.0接口,通过连接移动端,实现数据快速传输以及便捷使用。

海纳光学提供M2Beam光束质量分析仪的普通版本以及高功率版本,通过配置风冷束流采样器,可以实现高达4 KW功率的检测,从而保护探测头不受功率损伤。


光束质量分析仪M2Beam产品特点:

-可检测连续激光以及脉冲激光

-独特的断层图像重建技术

-最大25mm光束尺寸测量

-USB3.0接口快速数据传输

-激光质量监控

-可配置采样器,实现高功率激光检测

-即插即用,使用便捷


光束分析仪M2Beam产品规格参数:

-输入光束

激光质量分析仪

M2Beam

M2Beam U3

技术工艺

刀口式扫描原理,应用Si探测器,InGaAs探测器和增强型InGaAs探测器

USB 3.0接口

CMOS 2.4MP

内置过滤论

光谱响应(nm

SI传感器:350-1100

InGaAs传感器:800-1800

Enhanced InGaAs 传感器:800-2700

VIS-NIR350-1600

UV-NIR220-1350

激光功率范围

Si100 μW-1 W(带衰减片)

InGaAs&UV100 μW-5 mW

HP4 kW以下

10μW-100mW,内置滤光轮

HP4 kW

刀口数

7

光束尺寸

带透镜高达25mm直径(Si&UV版本)

束腰到透镜距离

2.0~2.5米最佳

最小2


-扫描装配附件

材质

透镜焦距

300mm(在632.6nm时)

透镜直径

25mm

扫描次数

140

最小步进尺寸

100μm

扫描长度

280mm


-整机

重量

2.5kg

尺寸

100×173×415 mm

托架

M61/4“固定

机械调整

水平角:±1.5°,垂直角:±1.5°

电缆长度

2.5m

光束分析仪订购信息:

M2Beam-Si – measurement device for silicon range (350 – 1100nm)

M2Beam-UV – measurement device for silicon range (190 – 1100nm)

M2Beam-IR – measurement device for silicon range (800 – 1800nm)

M2Beam-U3-VIS-NIR - measurement device for 350-1600 nm CMOS based

M2Beam-UV-NIR – Special – consult factory.

SAM3-HP-M – beam sampler for high power beams




文献资料

M2 Beam 规格书

询问表格

带*号为必填!
*联系人:
*电子邮箱:
*公司名称:
*联系电话:
留言内容:
*验证码:
验证码

相关应用

激光光斑和尺寸测量

激光光斑和尺寸测量

激光光斑尺寸是标志激光器性能的一项重要参数,也是实际应用中用户非常关心的参量。目前测量激光光斑的方法主要有刀口法、CCD法、照相法、狭缝扫描法、阈值时间法等。CCD法是目前最常用的一种方法。

产品导航 : 光束整形器分束器螺旋相位板多合一螺旋相位片 微透镜阵列工程散射片匀化镜皮秒半导体激光器人眼安全激光器可饱和吸收镜光斑分析仪位敏探测器内调焦激光准直仪光束质量分析仪激光波长计太赫兹源太赫兹相机高莱盒离轴抛物面镜太赫兹透镜红外热像仪Chroma滤光片消色差波片超快激光镜片NOIR激光防护眼镜激光护目镜电控平移台超快光电探测器太阳能模拟器显微镜载物台自动上样系统自动对焦系统径向偏振转换器

友情链接 : 维尔克斯光电维尔克斯光电博客 海纳光学博客 谷瀑环保 中国供应商


版权所有:深圳海纳光学有限公司 粤ICP备18089606号
电话:0755-84870203 邮箱:sales@highlightoptics.com