波前探测器,波前分析仪应用

Phasics公司基于创新的高分辨率波前传感技术，提供了全方位的测量和成像解决方案。产品能够满足了激光工程师，镜片制造商和细胞生物学家的需求。相位解决方案全部基于独特的专利技术，即四波横向剪切干涉仪。这项技术的开发克服了Shack Hartmann的局限性，并且提供超高分辨率（高达400×300个测量点），高灵敏度和大动态范围。此外，由于其直接设置而无需中继透镜，因此它体型紧凑小巧，能够消色差且易于使用。

其相变测试能力在波前测量和四波横向剪切干涉仪分析中均处于领先地位。对于每种应用，专家级软件包均提供完整且相关的分析，以充分利用高分辨率波前测量。Phasics着眼于客户，着眼于满足所有需求；其强大的研发团队不断开发创新功能，并根据客户要求定制标准配置。

法国Phasics SID4 波前传感器系列在激光参数测试上的应用（作为光斑分析仪）：

Phasics波前传感器可同时提供高分辨率的相位图和强度图。 它与SID4软件结合使用，可以对激光束进行完整的参数测试报告：波前像差，激光束参数，光束轮廓，M2光束质量参数等等参数。其紧凑的设计可以直接定位在激光光束的任何位置，因此它可以直接测量发散光束。紧凑且易于对准，无中继透镜的发散光束测量，光束轮廓。

对于大功率激光工程师

-设计并保证的激光参数质量

-实验前检查激光

对于激光制造商：

-在研发或生产中进行快速全面的光束质量控制（包括M2）

-SID4可用于400nm-1000nm 的激光的波前像差，强度分布，波前位相、泽尼克参数, 激光的M2值等参数进行实时的测量及参数输出。

适用于任何激光器

-连续到脉冲激光器

-UV到远红外

-宽带激光器，例如OPO激光器，飞秒激光器

法国Phasics SID4 波前相差仪特点：

-全光束特征(具有高分辨率的相位+强度)包括：像差（Zernike，Legendre),PSF，斯特列尔比，环绕能量,光束轮廓

-符合ISO 11146标准的M2测量：一次性测得;适用于任何激光，包括飞秒激光.

-在激光的任何点均进行全面测试：紧凑且易于对准，无需中继透镜即可进行发散光束测量，光束轮廓

-圆形或矩形瞳孔，多通道测试，倾斜光束

法国Phasics SID4 Element，SID4Bio，SID4-sC8波前分析仪在成像上的应用：

Phasics引入了光学显微镜的新形式：定量相位成像（QPI）。该解决方案包括一个类似于照相机的仪器，该仪器可与所有标准显微镜兼容，并具有适合许多应用的全面软件套件。主要的原理是：每个样本在光传播时都会在光路上产生延迟。 该延迟量（相移或光程差）可通过相位技术测量，由此此获得图像，对于该图像，每个像素值是所测量的局部相移。像素值与物理厚度和样本局部折射率有关。

生命科学：细胞学，无单细胞成像，组织学等方面。 它可以轻松地对标本（例如活细胞，组织或任何其他半透明标本）进行无标签成像。 它提供了无伪影的定量相图像，可精确测量有价值的参数：形态，干重，单个细胞的密度……它适用于癌症和干细胞研究，药物筛查，血液检查……智能仪器只需插入任何光学仪器即可。易于多模态的设置，例如相荧光组合。

热成像：Phasics提出的使用四波剪切干涉仪（TIQSI）解决方案的热成像技术使用高分辨率波前传感器，该传感器与任何具有自然宽带照明条件的显微镜兼容，并带有任何附加的激光模块。 热成像显微镜技术可以研究细胞生物学，物理学和化学领域的各种应用。所使用的热成像技术是菲涅耳研究所（G. Baffou）博士与Phasics SA合作开发的一种非侵入式热显微镜技术，能够将照明纳米结构产生的热量表征为纳米级。TIQSI基于对已知介质的热诱导折射率变化的测量，该测量是通过波前测量将其转换为温度变化值。

材料检查：折射率分析，波导测量，表面检查，LIDT评估等等方面。定量相位成像（QPI）技术非常适合用作半透明样品的折射率测量，具有准确且无损的优势。 QPI技术可以在半透。明样品（例如玻璃）中提供具有亚纳米级精度的波导的精确折射率分布。 对于LIDT技术，目标是检测材料表面特征中激光引起的永久变化。 QWSLI技术的优势在于可以进行原位表面分析。

法国Phasics Kaleo MTF测试仪在透镜质量控制以及光学表面测试的应用：

Phasics提供了独特的镜头测量原理,无需中继透镜即可直接测量波前。利用使用光传播理论进行计算：提供波前像差和MTF。不使用目标就可以在任何频率下获得MTF。仅一次波前采集便可提供完整的镜头质量参数：适用于任何频率和方位的MTF（调制传递函数），TWE（传输的波前误差）和像差（Zernike系数）的测试，可同时设置的多个波长进行测试。拥有严格的MTF和TWE的离轴波前分析，并且可以在测量平面上与Zemax设计的比较。

总结：波前探测主要是测量光束的相位变化，利用干涉的原理，得到干涉的图样对所测量的物体进行无损探测。可探测激光光束的所有参数，应用于成像方面：可用来做细胞组织的无荧光标记成像，可用于热成像以及材料的检查。此外还可以用于光学透镜质量控制，光学表面测试。