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PHASICS Kaleo套件,一站式波前测量仪选型指导,平行光源R-cube和SID4波前分析仪提供多种选择

作者: 时间:2024-09-13

PHASICS提供了一套成熟的波前测量解决方案,Kaleo Kit。其中:平行光源R-Cube365-3900nm波段中提供多种高质量的准直光束选择。PHASICS SID4系列波前传感器测量波长覆盖范围广,涵盖UVIR190-5000nm8-14μmR-Cube平行光管和SID4系列任一波前测量仪组成的PHASICS Kaleo套件都有成熟的测量光路方案和多种参数测量能力,Kaleo套件也可根据实际需求选购配件。

平行光源R-Cube配套Phasics SID4系列波前传感器可适用于各类镜片和大透镜像差测量、校准光学测试系统或自适应光学中的小型望远镜。平行光源R-Cube提供的高质量准直光束使得单次透反射、两次透射等不同测试光路中的波前测量变得简单而准确。

平行光源R-cube具体参数如下表:

适配SID4型号

SID4 UV / SID4 / SID4-HR /

SID4-SWIR / SID4 SWIR-HR / SID4-DWIR

光束直径

适应相关SID4波前传感器NA

光源波长

365 / 405 / 530 / 625 / 740 / 780 /

810 / 850 / 940 / 1050 / 1550 / 3900 nm

参考镜质量

λ/20 PV (632.8 nm)

相位分辨率(噪声)

2nmRMS


       PHASICS Kaleo波前测量仪套件中可选PHASICS SID4系列波前传感器具体参数如下:

SID4 型号

测量波段

靶面尺寸(mm²)

空间分辨率

相位分辨率

相位精度

相位分辨率

真空兼容性

SID4 UV

190-400nm

7.8 × 7.8

26 μm

300 × 300

20 nm RMS

2 nm RMS

 -

SID4 UV-HR

190-400nm

13.3 × 13.3

26 μm

512 × 512

40 nm RMS

2 nm RMS

 -

SID4 HR V

400-1100nm

9.98 × 8.64

24 μm

416 × 360

20 nm RMS

2 nm RMS

10 mbar

SID4

400-1100nm

5.02 × 3.75

27.6 μm

182 × 136

10 nm RMS

<2 nm RMS

 -

SID4 HR

400-1100nm

9.98 × 8.64

24 μm

416 × 360

20 nm RMS

<2 nm RMS

 -

SID4 UHR

400-1100nm

15.29 × 15.29

27.6 μm

554 × 554

 -

5 nm RMS

 -

SID4 SWIR

900-1700nm

9.6 × 7.68

120 μm

80 × 64

15 nm RMS

<2 nm RMS

 -

SID4 SWIR HR

900-1700nm

9.6 × 7.68

60 μm

160 × 128

15 nm RMS

<2 nm RMS

 -

SID4 eSWIR

1.2-2.2μm

9.6 × 7.6

120 μm

80 × 64

<40 nm RMS*

<6 nm RMS*

 -

SID4 eSWIR HR

1.2-2.2μm

9.5 × 7.6

120 μm

159 × 127

<40 nm RMS*

<6 nm RMS*

 -

SID4-DWIR

3-5μm8-14μm

10.08 × 8.16

68 μm

160 × 120

75 nm RMS

25 nm RMS

 -

*对于相干源


对于以望远镜、凹面镜、大口径透射元件、大口径透镜、离轴透镜为代表的五类光学元件,Kaleo Kit也提供了成熟的单次反射、单次透射、两次透射、透射及反射等波前分析仪测量光路:

       上图中所用到的Kaleo套件标注为:

       1:PHASICS SID4系列波前测量仪

       2:反射光源模块

       3:扩束器

       4:聚焦镜

       5:反射镜

       6:待测样品


考虑到更特殊波前传感器测样需求,PHASICS Kaleo Kit还能提供众多配件选择:

扩束器

光圈F#

平面参考镜

可见光VIS

短波红外SWIR

Ø15mm / Ø30mm / Ø60mm /
Ø100mm / Ø130mm

0.4 / 0.7 / 1.2 /
2.1 / 3.3 / 5 / 9

2.5 / 5 /10

2英寸 / 3英寸


Kaleo Kit波前测量仪主要应用领域为:

       -激光测量:M2,光束直径,泽尼克系数、波前像差、强度分布、束腰尺寸和位置

       -光学计量:MTFPSFEFL,泽尼克系数,光学镜头/系统质量控制

       -材料检测:表面质量(RMSPtVWFE),曲率半径

       -生物应用:蛋白质等组织定量相位成像

       -热成像分析,等离子体特征分析

       这些测量参数都可以在Kaleo Kit配套软件中获得清晰可靠的结果展现。

       以下为Kaleo Kit配套软件的部分可测参数指标展示:


根据光学设计文件,软件模拟测量平面中的标称相位,并传递残余波前误差(WFE):


模拟波前Simulated wavefront  测量波前Measured wavefront  剩余波前 Residual wavefront

Zemax的模拟结果)             (具体的测量结果)       (模拟波前-测量波前=残余波前误差)

离轴光路或任意频率光的MTF

由泽尼克项表征的像差:



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