SID4 SWIR HR超高采样分辨率波前传感器集成了InGaAs探测器和法国Phasics独特的专利技术——四波横向剪切干涉技术设计而成的。SID4 SWIR HR红外高分辨率波前分析仪，也被称为SID4 SWIR HR近红外波前分析仪，具有超高的相位采样分辨率（160 x 128）和高感光灵敏度，可以准确的测量0.9-1.7 μm的波前数据并且可适用于低功率红外光源测试。
所属品牌： 法国Phasics
应用类型：
产品型号：SID4 SWIR HR
负责人：孙泽明4
联系电话：13692216712
电子邮箱：zmsun@welloptics.cn
0.9-1.7 μm超高采样分辨率的SID4 SWIR HR波前分析仪
法国Phasics提供的SID4 SWIR HR红外高分辨率波前分析仪集成了InGaAs探测器和Phasics独特的专利技术——四波横向剪切设计而成的。由于SID4 SWIR HR近红外波前分析仪的超高采样分辨率（160 x 128 phase pixels）和高灵敏度，可以精确的测量900 nm到1.7 μm的波前数据。短波红外波前传感器SID4 SWIR HR是一种创新的设计方案，它的镜头可以应用于光通信，仪器检测，军事或夜视监测等领域。
SID4 SWIR HR超高采样分辨率波前传感器的主要特点：
- 覆盖0.9-1.7 μm短波红外波段
- 160 x 128的高相位采样分辨率
- 高感光灵敏度，可适用于低功率红外光源测试
SID4 SWIR HR近红外波前分析仪的主要应用：
- 激光，自适应光学
- 光学元件及光学系统计量
- 等离子体检测
SID4 SWIR HR波前传感器的规格参数：
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型号 |
SID4 SWIR HR |
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波长范围 |
0.9-1.7 μm |
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靶面尺寸 |
9.60 mm x 7.68 mm |
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采样分辨率 |
60 μm |
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采样分辨率 |
160 x 128 |
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相位分辨率 |
<2 nm RMS |
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绝对精度 |
15 nm RMS |
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采样速率 |
30 fps |
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实时处理速度（使用配套的SID4软件情况下） |
7 fps（全分辨率情况下） |
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接口类型 |
Giga Ethernet（以太网） |
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尺寸 |
100 x 55 x 63 mm3 |
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重量 |
~500 g |
asphericon准直平顶光束整形器
分束器
太赫兹衰减器
1064nm激光防护眼镜
光折变晶体 BSO，Fe:LiNbO3，SBN，BGO晶体
