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光束质量分析仪 M2Beam

光束质量分析仪 M2Beam

以色列DUMA生产的M2 Beam光束质量分析仪采用刀口式分析的原理,可以实现连续激光(CW)的测量,特殊版本使用CMOS传感器实现脉冲激光的检测,整体覆盖220-2700nm波段,其中脉冲激光可实现220-1600nm的波段覆盖。可配置风冷采样器,实现高功率激光的测量,功率强度提升至4KW,同时实现25mm光束尺寸的接收。M2因子检测以及一般数据测量准确度保持在±5%。主要满足用户对光束质量,束腰位置,束腰直径,发散角,瑞利长度,腰部对称性以及像散的分析,同时具备2D/3D建模以及数据导出的功能,包含Excel,World或文本格式导出,方便用户对检测数据进行二次处理。

所属品牌: 以色列Duma Optronics

应用类型: 激光测量

产品型号:M2Beam-Si,M2Beam-UV,M2Beam-IR,M2Beam-U3-VIS-NIR,M2Beam-UV-NIR,SAM3-HP-M

负责人:孙工 激光分析诊断设备
联系电话:13692216712 电子邮箱:zmsun@welloptics.cn

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实现220~2700nm光谱范围,±5%准确率的M2Beam光束质量分析仪




以色列DUMA公司提供的M2光束质量分析仪由七刀口式Beam Analyzer和移动平台组成,通过采集多个测量面实现对M²因子的测量,整体准确度保持在±5%范围内,满足用户对光束质量参数的需求,主要包括M2因子,发散角以及束腰参数等数据的检测。

由于Beam Analyzer应用刀口式扫描的原理,需要通过刀口截取激光面,因此无法实现对脉冲激光的检测。为了满足用户对测量激光种类的需求,以色列DUMA公司为用户提供了特殊型号选择,M2Beam-U3-VIS-NIR。该型号采取CMOS传感器搭配移动平台,可以实现对220-1600nm波段脉冲激光的测量,解决了用户对脉冲激光检测的需求。刀口式扫描分析原理的测量精度与光束尺寸无关,因此对于微米级的激光束,刀口扫描式分析相比于狭缝或针孔式原理的测量精度略高,M2Beam激光光束分析仪可以实现实时监控激光光束质量,配置USB3.0接口,通过连接移动端,实现数据快速传输以及便捷使用。

海纳光学提供M2Beam光束质量分析仪的普通版本以及高功率版本,通过配置风冷束流采样器,可以实现高达4 KW功率的检测,从而保护探测头不受功率损伤。


光束质量分析仪M2Beam产品特点:

-可检测连续激光以及脉冲激光

-独特的断层图像重建技术

-最大25mm光束尺寸测量

-USB3.0接口快速数据传输

-激光质量监控

-可配置采样器,实现高功率激光检测

-即插即用,使用便捷


光束分析仪M2Beam产品规格参数:

-输入光束

激光质量分析仪

M2Beam

M2Beam U3

技术工艺

刀口式扫描原理,应用Si探测器,InGaAs探测器和增强型InGaAs探测器

USB 3.0接口

CMOS 2.4MP

内置过滤论

光谱响应(nm

SI传感器:350-1100

InGaAs传感器:800-1800

Enhanced InGaAs 传感器:800-2700

VIS-NIR350-1600

UV-NIR220-1350

激光功率范围

Si100 μW-1 W(带衰减片)

InGaAs&UV100 μW-5 mW

HP4 kW以下

10μW-100mW,内置滤光轮

HP4 kW

刀口数

7

光束尺寸

带透镜高达25mm直径(Si&UV版本)

束腰到透镜距离

2.0~2.5米最佳

最小2


-扫描装配附件

材质

透镜焦距

300mm(在632.6nm时)

透镜直径

25mm

扫描次数

140

最小步进尺寸

100μm

扫描长度

280mm


-整机

重量

2.5kg

尺寸

100×173×415 mm

托架

M61/4“固定

机械调整

水平角:±1.5°,垂直角:±1.5°

电缆长度

2.5m

光束分析仪订购信息:

M2Beam-Si – measurement device for silicon range (350 – 1100nm)

M2Beam-UV – measurement device for silicon range (190 – 1100nm)

M2Beam-IR – measurement device for silicon range (800 – 1800nm)

M2Beam-U3-VIS-NIR - measurement device for 350-1600 nm CMOS based

M2Beam-UV-NIR – Special – consult factory.

SAM3-HP-M – beam sampler for high power beams




文献资料

M2 Beam 规格书

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