海纳光学——专业光电代理商,衍射光学元件,微透镜,离轴抛物面镜,激光防护眼镜,太赫兹元件,太阳能模拟器
English购物车网站地图
服务热线:0755-84870203
中文English
服务热线:0755-84870203

产品中心

衍射光学元件(DOE)

光束整形器螺旋相位片分束镜

多焦点DOE长焦深DOE匀化镜

线激光准直输出模组

光束整形器DOE>
光束整形器 准直平顶光模组 匀光片 匀化镜 M型光束整形镜 带聚焦的光束整形器 定制光束整形器 光束整形专用聚焦镜
光束整形模组>
πShaper光纤激光整形器,光纤激光整平顶激光 πShaper准直光束整形器,准直平顶光整形器 foxxus多焦点玻璃切割模组 Adloptica光束整形器,平顶光整形器 光束整形器专用镜架,平顶光安装对准器 可监控激光加工温度的红外聚焦镜,激光保护镜片(激光窗口片) Quattroxx激光分束器,分束模块
焦点控制DOE>
多焦点DOE 长焦深DOE 玻璃切割模组 DeepCleave激光成丝切割模组,用于玻璃切割的DeepCleave激光成丝模组
分束镜>
分束器 激光采样器 定制激光分束器 国产分束器
螺旋相位板>
螺旋相位板 涡旋相位片 连续面形螺旋相位片,涡旋相位板 RPC螺旋相位板,多合一螺旋相位片
其它DOE>
衍射轴锥镜 轴棱镜DOE 艾里光束DOE 三光点DOE 激光模式转换器 多圆环发生器 双波长聚焦镜 三波长聚焦镜 衍射光学元件
DOE模组>
线激光准直输出模组
DOE配件>
高衍射级次阻挡模组 DOE光束缩放器 DOE专用掩膜 DOE专用扩束器 DOE转接件
随机点阵DOE>
随机点阵DOE 散斑DOE 随机点阵激光模组
结构光DOE>
多线结构光DOE 网格结构光DOE 一维点阵DOE 直线DOE 二维点阵结构光DOE 十字线结构光DOE 圆环DOE 圆形点阵DOE 特殊图案结构光DOE 结构光镜片(玻璃),衍射匀化片
结构光模组>
结构光模组,结构光DOE模组 20um线激光模组,一字线激光模组
    
微透镜

微透镜阵列标准品 工程散射片

激光器及附件

皮秒半导体激光器 普克尔斯盒

激光分析诊断设备

光斑分析仪 位敏探测器 自准直仪

光束质量分析仪(M2) 激光波长计

太赫兹系统,THz源,相机

THz源 THz相机太赫兹探测器

THz人体安检仪 THz时域光谱系统

太赫兹元件

有机晶体 THz衰减器

离轴抛物面镜THz偏振片

THz透镜THz波片 

光学仪器

AAA级太阳能模拟器光学斩波器

光学镜片及晶体

Chroma滤光片消色差波片

UPD超快光电探测器二氧化碳激光镜片

光学配件

激光防护眼镜激光护目镜 

平移台及显微镜载物台

PRIOR显微镜载物台自动上片机

Zaber电控平移台MinusK隔振台

浏览记录

显示更多  up

LAM-BA激光增材专用光束质量分析仪

LAM-BA激光增材专用光束质量分析仪

新兴的激光金属三维打印技术或称为LAM(激光三维打印,激光增材制造)被公认为金属零件制造的革命性创新工艺。激光对于这种新工艺发挥了重要作用,LAM-BA激光增材专用光束质量分析仪能够精确测量激光与粉末材料作用的微小区域的光斑能量分布和光束质量,是分析激光增材加工微观过程和加工效果的有力工具。DUMA提供的LAM-BA 3D打印M2仪,也称为LAM激光轮廓仪,能测量350~1100nm的激光,光束直径覆盖35um~8mm,最大可承受功率4kW,是一个非常好用的激光增材测量仪器。

所属品牌:

应用类型:

产品型号:

负责人:孙工 激光分析诊断设备
联系电话:13692216712 电子邮箱:zmsun@welloptics.cn

规格书下载 添加到询价单

 

350~1100nm,光束直径35um~8mm,最大功率4kW,LAM-BA光束质量分析仪

 

最近,一种新兴的金属三维打印技术或称为 LAM (激光三维打印,激光增材制造)被公认为金属零件制造的革命性创新工艺。对于这种应用,激光器发挥了重要作用,因为它们可以将大量的能量集中在各种材料粉末上,将粒子融入三维部件。激光增材过程基于逐层累积结构,其中每一层被选择性地彼此顶部熔合,直到所述部件成为成品。

激光增材设备(LAM)最核心的参数就是加工区域的激光光束质量(M2),也就是激光与材料粉末相互作用的微小区域内的激光轮廓。如今,大多数激光增材三维打印设备的激光器是基于光纤光学高功率技术与光学扫描头的结合,工程师们最需要测量的就是工作面上激光加工位置的光束质量和M2数值,具体包含光斑大小,能量分布,发散角,功率等。LAM-BA激光增材专用光束质量分析仪就能够精确测量出这些参数,使用简便,能直接测量大功率聚焦光斑,稳定可靠,其也被成为LAM激光轮廓仪或3D打印M2仪。

以色列DUMA公司最新开发的LAM-BA激光增材专用光束质量分析仪,能够监控工作面加工位置的光束质量的变化,加工位置的激光光束质量的稳定性也是衡量工艺重复性和稳定性最关键的参数,因此工程师可以根据实时测量结果优化工艺参数,评估激光器的好坏,分析加工缺陷原因。LAM-BA激光轮廓仪,能测量波长350~1100nm的激光,光束直径覆盖35um~8mm,最大可承受功率4kW,是一个非常好用的激光增材测量仪器。






LAM-BA激光轮廓仪产品规格:

传感器类型

硅(Si - 刀口技术(Knife-edge technology

光谱范围

Si350-1100nm。 联系工厂了解其他波长

刀片数量

7个刀片,图像层析成像重建

光束尺寸范围

35微米至8毫米

光束宽度分辨率

For beams > 100 μm in size: 1 μm. For beams <100 μm in size: 0.1 μm

光束宽度精度

±2%

功率范围

高达4 kW(带过滤器和加压空气冷却,可能会有一些限制)

功率准确度

±5%

位置准确性

±15 μm

位置解析

1 μm

测量率

5 Hz

重量

传感器头带电缆~1500克。

PC接口

USB 2.0PCI可选)

可选配件:

ND光学滤光片

 

激光增材专用光束质量分析仪测量的参数

影响激光增材机器性能的最重要参数是:焦点光斑的宽度和位置,焦点偏移,质心位置,绝对功率和激光动态的实时测量。Duma提供的LAM-BA激光增材专用光束质量分析仪,可以使用刀口和相机系统技术实时执行这些测量。 此外,为了确保精确测量,仪器具有特殊的光束路径设计,该设计根据其熔合表面处的光束位置进行校准。为了使系统适应狭小的空间,系统尺寸最小,并且可以作为LAM激光增材设备的一部分集成。

LAM-BA激光增材专用光束质量分析仪的设计确保了其能够精确定位到参考孔(激光与材料粉末作用的位置),打在输入孔上的激光光束将精确地聚焦在仪器所在的表面上。激光束在三轴-XY Z轴上的位置将实时显示相对于参考孔的位置。为了完成所需的测量参数,LAM激光轮廓仪将在同一位置测量束剖面图,以产生一个实时的全面测试诊断。

2显示了专注于顶部平面的聚焦光束。为了保证激光光束性能的质量,我们将测量激光光束的特性如下: 功率、位置和轮廓(M平方,光束质量)。为此,仪器将准确定位在感兴趣的位置 - 仪器底部的参考孔便于操作,该参考孔准确地代表仪器的测量点。

3显示了安装在参考孔上的LAM-BA激光轮廓仪,仪器会执行必要的测量。光线轨迹设计使得入射光束被采样,其位置正好在工作面的入射点处。

 

扫描刀口技术

DUMA公司的LAM-BA激光增材专用光束质量分析仪采用刀口法进行测量,可以测量几微米到十几毫米的光束直径。刀口剖面的孔径足够大,可以通过整个横梁。孔径有一个锋利的直边(刀刃)。 当光圈穿过光束时,系统测量光束中没有被刀片挡住的部分(见图4) ,并绘制差别(强度变化率)和光圈的功率位置。 当刀刃穿过光束时,系统大约计算每次扫描1.2万次光束的光束大小和一个复杂的电子电路样本,并进一步处理,使每个光束剖面产生超过1000个有用点,而不管光束大小。即使对非常小的微米级光束也能以较低的分辨率取样。这种自动缩放程序提供了独立于光束尺寸的最高精度。与狭缝或针孔扫描相比,这是有利的: 光束强度不受限于针孔或狭缝的大小; 分辨率不受孔径大小的限制,允许测量几微米直径的光束。此外,DUMALAM系列3D打印M2仪还提供了精确的功率测量,一种特殊的针形量规将以每秒五次的实时速度显示功率(参见图5)

刀口扫描技术的优点是其宽动态范围的光束从小于3微米到15毫米。利用特殊的敏感探测器,它可以测量2.8微米波长的光束。 DUMA公司发明了从不同导向的多个扫描刀的边缘产生的轮廓,重建为图像使用层析技术,还申请了专门的国际专利保护。

 

光束采样技术

Duma Optronics的大功率激光器光束采样器是从大功率系统在线采集光束的 LAM激光增材专用光束质量分析仪的重要组成部分。采样光束检测使用刀口技术,产生一个高度准确的测量结果。目前,LAM-BA最大测量功率能够达到8千瓦。LAM-BA激光增材专用光束质量分析仪还进行了精巧的冷却设计,一个加压的空气或氮管被连接到一个喷嘴上,主动冷却激光束通过的第一个表面。DUMA的光束采样器是一种全保真的、保持光束偏振的采样器。 压缩空气被用来冷却系统,同时防止透镜受热,使光学不受尘埃和粒子的影响。该系统能够以每秒五个读数的速度测量功率和光束大小,比通过测量激光束引起的水温差来工作的水冷功率表快很多。该测量系统可用于深紫外线或高达2.7微米的功率系统的微小变化。

 

最后总结一下LAM-BA激光轮廓仪,M2仪的优点:

-行业领先的刀口法测量技术,独特的断层图像重建算法

-配合高功率采样器,最大测量功率4kW,只需空气冷却

-高速实时测量,15次(可进行用户校准)

-准确测量激光M2,光斑能量分布,轮廓,位置和功率

-光束直径范围广,小于35微米到8毫米

-非常紧凑,专为满足LAM行业的需求而设计

    

 

文献资料

询问表格

带*号为必填!
*联系人:
*电子邮箱:
*公司名称:
*联系电话:
留言内容:
*验证码:
验证码

相关应用

产品导航 : 光束整形器分束器多焦点DOE螺旋相位片多合一螺旋相位片随机点阵DOE20um线激光模组 微透镜阵列工程散射片皮秒半导体激光器光斑分析仪位敏探测器自准直仪光束质量分析仪激光波长计太赫兹源太赫兹相机离轴抛物面镜太赫兹波片太赫兹偏振片太赫兹衰减片太赫兹透镜Chroma滤光片消色差波片激光防护眼镜Zaber电控平移台UPD超快光电探测器太阳能模拟器

友情链接 : 维尔克斯光电 新浪博客 阿里巴巴旺铺 网易博客 维尔克斯光电博客 海纳光学博客博客 环保在线 八方资源 谷瀑环保 中国制造网 盖德化工厂 黄页88 中科商务网 中国供应商 来宝网  机电之家 搜了网

版权所有:深圳海纳光学有限公司 地址:深圳市龙岗区平湖街道华南城一号交易广场五楼C
电话:0755-84870203 邮箱:sales@highlightoptics.com