法国 Phasics公司提供Kaleo光学传递函数测量仪，其能提供最完整的透镜特性测试方案，包括离轴MTF和宽波长的波前误差测试。这个系列的MTF测试仪可用于镜头测试，光学表面测试。Kaleo IR 红外透镜的质量控制及测试系统，提供多个红外波长的测试方案。Kaleo MTF for R&D测试仪对于研发的特点是多个波长下进行自动离轴MTF以及波前误差测试。Kaleo i是一款人工晶状体质量控制测试仪。
所属品牌： 法国Phasics
应用类型： 激光测量
产品型号：Kaleo MTF Measurement Station，Kaleo IR，Kaleo i，Kaleo MTF for R&D
负责人：孙泽明4
联系电话：13692216712
电子邮箱：zmsun@welloptics.cn
镜头测试，光学表面测试，人工晶状体质量控制 Kaleo MTF测试仪
Phasics为研发和生产中的镜片质量控制和表面测量提供了全方位的计量工具。这些计量仪器包括独立传感器和自动离轴透镜测试台等等产品。所有这些解决方案采用Phasics独特的波阵面技术，并在保持易于使用和通用计量工具的同时执行可靠而完整的测量。覆盖的波长范围从紫外线到远红外线，并且都可以使用相控解决方案。
Kaleo IR波前传感器产品介绍：
该产品使得红外透镜的质量控制非常简单。Kaleo IR MTF可以在所有频率下单次拍摄而无需扫描或复杂对准。 该单次采集还提供了所有波前像差。Kaleo红外工作台可作为NIR，SWIR，MWIR或LWIR区域中任何波长组的具有成本效益的红外干涉仪。
MTF测试仪可测参数：
-MTF函数
-波前误差和像差
-多波长测试
Kaleo MTF for R&D镜头测试平台介绍：
Kaleo MTF工作台可在多个波长下执行自动离轴MTF和波前误差测量。 它还通过聚焦MTF，畸变，EFL等方式来测量像差（泽尼克系数）。依据镜头的出瞳参数，精确计算并测量透镜的离轴参数。 该工作台利用Phasics提供的最完整的质量控制技术，具有易用性和多功能性。
Kaleo MTF for R&D镜头测试平台特点
-400至1100nm的6个波长
-在不同的方位角的测试
Kaleo-I传函测量仪介绍：
仪器是专为屈光人工晶状体（球面，非球面，复曲面或双焦点）的质量控制而设计的。由于采用高分辨率的波前传感器，它可以实现快速而可靠的测量。在生产中，它提供了ISO11979标准所要求的功率和MTF，包括模型眼。对于研发而言，它还提供了许多额外的结果，例如通过焦点的MTF和球差的像差。
镜头质量控制平台Kaleo-I的特点：
-符合ISO 11979-2标准的电源和MTF上通过/失败显示
-单个镜头和批次自动报告
-专用试管和模型眼
-快速的计算机辅助对准（仅对中）
Kaleo光学传递函数测量仪产品介绍：
Phasics可提供最完整的透镜特性测试方案：离轴MTF和多种波长的波前误差。得益于Phasics专利技术，即使在大视野（FoV）时也可以提供准确的结果。Kaleo MTF测试仪非常适合测量少量物镜。操作员或研发工程师可以使用它来验证设计和原型阶段。 光学传递函数测量仪可通过一次采集即可提供完整的测试参数输出。
市场：汽车行业| ADAS | 监视和安全| 无人机| 移动电话
Phasics Kaleo MTF 测试平台的特点：
-单次测量，MTF测量高达截止频率，精度类似于干涉测量法
-高品质的准直光源，经济有效的解决方案
-无需重新校准离轴测量，自动对焦，易于校准和多种应用
-几种不同的波长（默认为RGB + IR），在几个方位角处测量
-全自动测量过程
Phasics MTF光学传递函数测量仪可测的参数
-轴上和轴外MTF，通过焦点MTF
-传输的波前错误，Zernike多项式
-镜头参数：EFL，F＃，OPD在镜头出口瞳孔
-散光，图像失真，场曲率
-相对照度曲线
法国Phasics 镜头测试系统的具体参数：
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参数 |
参数值 |
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光学设置 |
有限到无限配置 |
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波长范围 |
400-1100 nm / 900-1700 nm / 3-5µm / 8-14µm |
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入瞳直径 |
Up to 8.8 mm |
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F# |
> 1.8 mm |
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Flange焦距 |
8 to 30 mm |
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焦距范围 |
5 to 500 mm |
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视场角 |
Up to ±120° |
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MTF on-axis |
准确性 <1%* - 重复性 <0.5%* |
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MTF off-axis |
准确性 <2%** -重复性 <1%** |
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MTF 精确度 |
LWIR ±0.02 / MWIR ±0.03 / SWIR ±0.01 / Visible ±0.02 |
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MTF 重复性 |
LWIR & MWIR ±0.015 SWIR & Visible ±0.01 |
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失真 |
准确性 <0.5% - 重复性 <0.05% |
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场曲率 |
准确性 <5µm - 重复性 <1µm |
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OPD（光程差）轴上 |
准确性 20 nm RMS -重复性<5 nm RMS |
本文主要是介绍基于四波横向剪切干涉技术的波前分析仪上应用于光学表面，镜头测试，生物成像，激光参数测量，MTF函数测量的应用。主要介绍的是法国Phasics的产品，其产品涵盖了以上所有应用，Phasics是一家优秀的波前…
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