以色列DUMA生产的BeamOn X光斑分析仪，又可称为BeamOn X光斑测量仪或BeamOn X光斑光束分析仪。该设备采用全球快门技术，能够实时检测光束直径30 um-4.5 mm，且波长350-1310 nm的连续光或脉冲光。BeamOn X光斑分析仪属于CMOS光斑分析仪，软件通过CMOS成像、处理，显示质心定位、光束轮廓、能量分布，同时经过处理得出光束尺寸、光斑椭圆度的参数值。在光斑光束分析仪中，BeamOn X光斑检测仪分辨率高达643万，是DUMA激光光斑分析仪中具有成本效益的一款设备。
所属品牌： 以色列Duma Optronics
应用类型：
产品型号：BEAMON-X-E-FW、BEAMON-X-E
负责人：孙泽明4
联系电话：13692216712
电子邮箱：zmsun@welloptics.cn
7.4 mm x 5 mm靶面，像素尺寸2.4 um，高分辨率BeamOn X光斑分析仪
BeamOn X光斑分析仪，又可称为BeamOn X光斑测量仪或BeamOn X光斑光束分析仪，是DUMA激光光斑分析仪中基于CMOS成像原理的一款设备，具有良好的成本效益。另外，该设备属于CMOS光斑分析仪，采用全球快门技术，带有1/1.8英寸的检测区域，配套的软件界面友好，使用方便，能实时检测和显示光束轮廓、光斑椭圆度情况。
BeamOn X光斑测量仪能测量光束直径30 um - 4.5 mm的连续光或脉冲光，定位分辨率高达1 um。光束经由CMOS光斑分析仪系统成像后，软件界面将显示光束轮廓和能量分布，同时还提供质心定位、光斑椭圆度、光束尺寸数值。质心定位、光束尺寸在BeamOn X光斑光束分析仪检测过程中得出，能量分布通过颜色变化情况和能量曲线来辨别。在一定的能量强度的范围内，激光光斑分析仪系统还能测量出光斑椭圆度、长轴、短轴数值。为了保障BeamOn X光斑光束分析仪不因激光功率过高而导致设备故障，激光的功率密度应远低于损伤阈值。
BeamOn X光斑测量仪的特点：
-测量光斑尺寸低至30微米
-CMOS成像
-光斑椭圆度
-准确质心定位，测量光束轮廓和能量分布
-高帧率——50 Hz
-光谱范围——350-1310nm
BeamOn X光斑分析仪外观图片
BeamOn X CMOS光斑分析仪可检测激光规格：
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规格 |
参数 |
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光束类型 |
连续光或脉冲光 |
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光束尺寸 |
⌀30 um-⌀4.5 mm |
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光谱响应范围 |
350-1310 nm |
BeamOn X光斑检测仪产品规格：
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型号 |
BeamOn X |
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传感器类型 |
CMOS 尺寸1/1.8英寸 |
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传感器探测面积（mm） |
7.4（长）x 5（高） |
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分辨率（像素数量 长 x 高） |
3096 x 2080 |
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像素尺寸 |
2.4 um x 2.4 um |
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像素位深 |
10/14 bits |
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光束宽度分辨率 |
1微米或者更好 |
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损伤阈值 |
带衰减片50 W/cm2 |
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灵敏度 |
激光波长633 nm时，0.5 nW/cm2 激光波长1310 nm时，15000 nW/cm2（15 uW/cm2） |
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饱和度 |
不带衰减片1 W/cm2 |
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产品尺寸（长 x 宽 x 高）单位mm |
⌀63 mm x 51 mm宽 |
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重量（典型） |
带光缆300 g |
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机械接口 |
Post mounting：8-32UNC，6 mm宽 |
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运行温度 |
0 °-35 ℃ |
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定位分辨率 |
1 um |
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光束宽度精确度 |
±2% |
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动态范围 |
60 dB |
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曝光速度（可调节） |
32 us-2 s |
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帧率 |
50 fps - 高达450 fps @fast mode（8 bit + ROI） |
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功率测试 |
在选定的点上进行用户预校准 |
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去除背景噪声 |
自动 |
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Trigger |
内部软件 |
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功率需求 |
~2 W（通过USB3.0接口） |
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最低（计算机）硬件要求 |
CPU i5 1.6 GHz，4 GB内存 最低分辨率1366 x 766 |
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接口 |
USB3.0，Windows 7/8/10（32&64 bit） |
订购信息：
Model BEAMON-X-E-FW：350-1310 nm，带衰减片转轮，转轮内含3片衰减片（NG4，NG9，NG10）
Model BEAMON-X-E：350-1310 nm，不带衰减片转轮
一套完整的激光光斑分析仪系统包括一台BeamOn X光斑分析仪（含连接线缆）、一根支柱、系统软件（存于CD/U盘）、一个小提箱。
Model BEAMON-X-E-FW光斑检测仪尺寸图
Model BEAMON-X-E光斑检测仪尺寸图
Tm,Ho:KYW晶体
薄膜匀化片
LAM U3激光轮廓仪
